理工学研究科

理工学研究科応用化学専攻の白田ひびきさん（博士前期課程2年・小池裕也研究室）のポスター発表が，アメリカ合衆国コロラド州ウェストミンスターで開催された「2024 DENVER X-RAY CONFERENCE」（ICDD主催）で『BEST XRD POSTER』に選出されました。なお，国際学会での発表にあたり，主催のICDDより「Robert L. Snyder Student Attendance Award」（旅費助成）を獲得しました。

受賞者：白田ひびき（博士前期課程２年・小池裕也研究室）

受賞名：BEST XRD POSTER

学会名：2024 DENVER X-RAY CONFERENCE

開催日：2024年8月5日（月）～2024年8月9日（金）

開催地：The Westin Westminster, Westminster, Colorado, USA

発表題目：Crystalline phase analysis of cosmetic foundation using powder X-ray diffractometry

発表者：○Hibiki Shirata, Atsushi Ohbuchi, Yuya Koike

研究内容：市販の化粧用ファンデーション中のルチル（二酸化チタン）を、粉末X線回折分析を用いて標準試料不要な定量分析を行った研究である。粉末X線回折分析のほか、蛍光X線分析により得られた定量値も併せて丁寧に評価した。スタンダードレスの粉末X線回折分析手法として有用な知見が得られたため，その着想が高く評価されたと考える。